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J-GLOBAL ID：200903075037368712

X線検出器の照射劣化特性測定方法およびX線CT装置

Inventor： 郷野 誠 ,  熊▲ざき▼ 昌也
Applicant, Patent owner： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Agent (1)： 有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995221553
Publication number (International publication number)：1997056709
Application date： Aug. 30, 1995
Publication date： Mar. 04, 1997
Summary：

【要約】【課題】 X線検出器の照射劣化特性を正確に測定する。【解決手段】 2段検出器アレイを備えたX線CT装置100において、第1段の検出器アレイのみにX線を入射させて出力データを取得し、第1段の検出器アレイの出力データから変動比を求め、第2段の検出器アレイの出力データから基準変動比を求め、変動比から基準変動比を減算し、第1段の検出器アレイの照射劣化特性を求める。また、第2段の検出器アレイのみにX線を入射させて出力データを取得し、第2段の検出器アレイの出力データから変動比を求め、第1段の検出器アレイの出力データから基準変動比を求め、変動比から基準変動比を減算し、第2段の検出器アレイの照射劣化特性を求める。この照射劣化特性と被検体をスキャンした時のX線照射の積算値から感度の劣化分を求め、それを補償するように出力データを補正する。【効果】 X線検出器の照射劣化特性に起因する画像上のアーチファクトをなくすことが出来る。

Claim (excerpt)：

X線照射を受けた積算量に応じてX線検出器の感度が劣化する照射劣化特性の測定方法であって、2段以上のX線検出器が一体化された多段X線検出器の第q段(=少なくとも1段)のX線検出器にX線が入射するようにし且つ第p段(=第q段以外の少なくとも1段)のX線検出器にX線が入射しないようにしてm(≧1)回のX線照射を行い、次に第q段と第p段のX線検出器にX線が入射するようにして第q段のn(=m+1)回目のX線検出器の出力データ(測定データ)と第p段のn(=m+1)回目のX線検出器の出力データ(基準データ)とを取得し、前記測定データと前記基準データから第q段についての照射劣化特性を求めることを特徴とするX線検出器の照射劣化特性測定方法。

IPC (3)：

A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350 ,  G01T 1/20

FI (3)：

A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 350 H ,  G01T 1/20 J