Pat
J-GLOBAL ID:200903075070990062
電磁波測定方法及び装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
役 昌明 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998067675
Publication number (International publication number):1999248770
Application date: Mar. 04, 1998
Publication date: Sep. 17, 1999
Summary:
【要約】【課題】 専門性を必要せず、かつ表示に要するインターバルロスを生じさせない電磁波測定装置を提供する。【解決手段】 各種パラメータ等の各種パラメータ条件を設定入力する条件設定入力手段7と、波形テーブルを初期化する波形テーブル初期化手段5と、条件設定入力手段により設定入力された条件の範囲内で波形抽出タイミングに従って抽出された波形データを記憶する波形データ記憶手段5と、条件設定入力手段により設定入力された条件の範囲内で波形抽出タイミングに従って抽出された波形データと波形データ記憶手段に記憶された前回の波形データとの差分を取って波形テーブルの波形データを更新する波形データ更新処理手段5と、波形データ更新処理手段による波形データの更新終了時に波形テーブルより得られた波形データと予め設定した判定条件とを比較して波形テーブルより得られた波形データを判定処理する判定処理手段5と、判定処理手段による判定処理結果を測定結果として出力・表示する出力・表示手段6とから構成される。
Claim (excerpt):
電磁波測定のために減衰パラメータ、抽出回数、周波数範囲および判定条件等の各種パラメータ条件を設定入力する段階と、波形テーブルを初期化する段階と、設定入力された条件の範囲内で波形抽出タイミングに従って抽出された波形データを記憶する段階と、設定入力された条件の範囲内で波形抽出タイミングに従って抽出された波形データと記憶された前回の波形データとの差分を取って前記波形テーブルの前記波形データを更新する段階と、前記波形テーブルにおける前記波形データの更新終了時に波形テーブルより得られた波形データと予め設定した判定条件とを比較して前記波形テーブルより得られた波形データを判定処理する段階と、判定処理した結果を測定結果として出力・表示する段階と、を含むことを特徴とする電磁波測定方法。
IPC (3):
G01R 29/08
, G01R 31/00
, G01R 31/12
FI (3):
G01R 29/08 Z
, G01R 31/00
, G01R 31/12 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
-
電磁環境計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-023032
Applicant:日本電信電話株式会社
-
特開平4-294285
Return to Previous Page