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J-GLOBAL ID:200903075111350049
超音波厚さ計
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
塚本 正文 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994096909
Publication number (International publication number):1995280542
Application date: Apr. 11, 1994
Publication date: Oct. 27, 1995
Summary:
【要約】【目的】 送波信号と相関がない受波信号の歪み部分を除去して外乱ノイズを低減し、被検体板厚測定の精度を向上することができる超音波厚さ計を提供する。【構成】 送波信号を送波して被検体からの反射波を受波する送受波部1と、送受波部1により受波された受波信号を標本化及び量子化する受波処理部2と、送波信号と受波信号から相互相関関数を求め被検体の情報をもつパルス波形以外の雑音を除去し被検体の板厚を表すパルス波形のピーク値を検出する信号処理部3と、パルス幅及び被検体中音速から被検体の板厚を計算する主演算部4と、板厚を表示する結果表示部5とを具えている。
Claim (excerpt):
送波信号を送波して被検体からの反射波を受波する送受波部と、上記送受波部により受波された受波信号を標本化及び量子化する受波処理部と、送波信号と受波信号から相互相関関数を求め被検体の情報をもつパルス波形以外の雑音を除去し被検体の板厚を表すパルス波形のピーク値を検出する信号処理部と、パルス幅及び被検体中音速から被検体の板厚を計算する主演算部と、上記主演算部で計算された板厚を表示する結果表示部とを具えたことを特徴とする超音波厚さ計。
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