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J-GLOBAL ID：200903075144337218

3次元計測方法

Inventor： 岩田 裕 ,  山本 裕一 ,  重山 吉偉 ,  西垣 賢吾
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 梅田 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992221186
Publication number (International publication number)：1994066527
Application date： Aug. 20, 1992
Publication date： Mar. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】 縞操作を用いた格子パターン投影法による3次元計測方法において、3次元計測方法の高精度化かつ、計測範囲の広範囲化を目的とする。【構成】 縞操作を用いた格子パターン投影法による3次元計測方法において、格子パターンの周期の違う複数の投影手段を用いる事を特徴とする。

Claim (excerpt)：

縞操作を用いた格子パターン投影法による物体の高さ及び3次元計測方法において、格子パターンの周期の違う2つの計測手段を用い、周期の小さな計測手段で計測した結果の周期ずれを、周期の大きな計測手段で計測した結果を用いて補正することを特徴とする高精度かつ、計測範囲の広範囲な3次元計測方法。