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J-GLOBAL ID：200903075153779142

半導体装置

Inventor： 丸子 彰 ,  妹尾 大吾
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 早瀬 憲一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003140575
Publication number (International publication number)：2004340877
Application date： May. 19, 2003
Publication date： Dec. 02, 2004
Summary：

【課題】従来の半導体装置の故障検出手法では、回避が困難であった、時間経過による劣化に起因する半導体装置の不良を回避し、装置の寿命を延長させる。【解決手段】半導体装置200に、機能回路部210,212を複数設け、割り込み検出回路222で割り込みを検出した任意の時点で、モード変更回路223により故障検出モードに切替え、故障検出制御回路224により、機能回路部210,212に自己診断動作を行わせ、故障判定回路226により故障の有無を判定し、記憶回路228に記憶したその判定結果に応じて、出力信号切替回路218が故障の生じていない側の機能回路部210,212の出力を選択するようにした。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

同じ信号入力に対して所定の動作を行い同じ信号出力を出力する少なくとも2つの機能回路と、 割込みを検出し割り込み検出信号を出力する割込み検出回路と、 前記割り込み検出信号に応じて当該半導体装置の動作状態を変更するモード変更回路と、 前記動作状態を変更した変更モードにおいて、前記各機能回路の故障検出処理を行う故障検出制御回路と、 前記各機能回路の故障の有無を判定する故障判定回路と、 該故障判定回路による故障判定情報を保持する記憶回路と、 該記憶回路の出力に応じて、前記各機能回路からの出力信号のうち、任意の一つを選択する出力選択回路と、を備えた、 ことを特徴とする半導体装置。

IPC (4)：

G01R31/28 ,  G06F11/22 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

FI (6)：

G01R31/28 V ,  G06F11/22 330B ,  G06F11/22 360P ,  H01L27/04 T ,  H01L27/04 M ,  G01R31/28 G

F-Term (21)：

2G132AA00 ,  2G132AB04 ,  2G132AC14 ,  2G132AK00 ,  2G132AK07 ,  2G132AK09 ,  2G132AK23 ,  2G132AK27 ,  2G132AL00 ,  2G132AL11 ,  5B048AA20 ,  5B048CC18 ,  5B048FF01 ,  5F038DF01 ,  5F038DF17 ,  5F038DT02 ,  5F038DT04 ,  5F038DT05 ,  5F038DT06 ,  5F038DT15 ,  5F038EZ20