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J-GLOBAL ID：200903075157311374

低温赤外分光光度計

Inventor： 宮原 裕二 ,  藤井 稔子 ,  渡辺 ▲吉▼雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991312197
Publication number (International publication number)：1993149871
Application date： Nov. 27, 1991
Publication date： Jun. 15, 1993
Summary：

【要約】【目的】減衰全反射プリズム上に導入された液体試料中成分の吸収スペクトルの高感度化、及び再現性向上を図る。【構成】減衰全反射プリズム1と冷却材保持機構3の間に液体試料5を設置し、冷却材保持機構から減衰全反射プリズム表面に向かって液体試料が凝固するように、温度センサ10やヒーター11又は断熱材のフレーム2などにより液体試料中に温度勾配を形成した。【効果】上記構成により、冷却材保持機構から減衰全反射プリズム表面に向かって液体試料が凝固し、偏析により試料中成分が減衰全反射プリズム表面に高濃度に集められるので、高感度赤外吸収スペクトルを再現性良く取得することができる。

Claim (excerpt)：

減衰全反射プリズムの光が全反射する面を壁面の一部とする密閉又は半密閉構造の液体試料保持機構を有し、光全反射面と対面する面に冷却材を保持する機構を設け、液体試料中に減衰全反射プリズムからの距離が長いほど温度が低くなるような温度勾配を形成し、光全反射面と対面する面から光全反射面に向かって液体試料が凝固する減衰全反射プリズムセルを有することを特徴とする低温赤外分光光度計。