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J-GLOBAL ID：200903075157792216

ICカード内蔵メモリの検査方法

Inventor： 若松 雅樹
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 志村 浩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994013228
Publication number (International publication number)：1995210640
Application date： Jan. 11, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ROM内にメモリ検査用のプログラムを格納することなしに、内蔵メモリの検査を行う。【構成】 図(a) に示すように、EEPROM15の第2の領域に、第1の検査用プログラムをロードし、このプログラムを用いて第1の領域についての検査を行う。続いて、図(b) に示すように、EEPROM15の第1の領域に、第2の検査用プログラムをロードし、このプログラムを用いて第2の領域についての検査を行う。検査終了後は、EEPROM15内を消去し、システム領域に検査終了コードを書き込む。

Claim (excerpt)：

少なくともRAM,ROM,EEPROMの3種類のメモリと、これらのメモリをアクセスする機能をもったCPUと、を内蔵するICカードについて、メモリの検査を行う方法において、EEPROM内に、メモリ検査用プログラムを書き込み、この検査用プログラムを実行することによりメモリの検査を行い、検査終了後に検査用プログラムを消去することを特徴とするICカード内蔵メモリの検査方法。

IPC (3)：

G06K 19/07 ,  G06F 12/16 330 ,  G06K 17/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭64-051594
  
• 特開平1-223586
  
• 特開平1-092858
  
• 特開昭63-073339