メモリテスト方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柿本恭成
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006150134
Publication number (International publication number)：2007323167
Application date： May. 30, 2006
Publication date： Dec. 13, 2007
Summary：

【課題】メモリを確保せずに書き込みや読み込みが行われた場合のエラーを検出する。【解決手段】初期化時にヒープ領域21を固有の値(例えば、オールF)で埋め、メモリ確保時に確保するメモリ領域が固有の値(オールF)であることを確認し、メモリ解放時に解放するメモリ領域に固有の値(オールF)を書き込む。これにより、メモリ領域を確保する前にヒープ領域21に対してライトアクセスを行った場合のエラー、あるいは、メモリ領域を解放した後にヒープ領域21に対してライトアクセスを行った場合のエラーを自動的に検出することが可能となる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

メモリの初期化時にヒープ領域を任意の値にし、前記メモリの確保時、及び前記メモリの解放後にそれぞれ前記ヒープ領域が前記任意の値になっているか否かを判別することにより、メモリリークを検出することを特徴とするメモリテスト方法。

IPC (3)：

G06F 11/28 , G06F 12/16 , G06F 11/30

FI (3)：

G06F11/28 A , G06F12/16 B , G06F11/30 320C

F-Term (15)：

5B018GA03 , 5B018HA17 , 5B018JA04 , 5B018JA12 , 5B018JA14 , 5B018KA23 , 5B018MA01 , 5B018NA01 , 5B018QA20 , 5B018RA20 , 5B042GA33 , 5B042JJ15 , 5B042JJ29 , 5B042JJ44 , 5B042MC07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

メモリリーク検出システム、メモリリーク検出方法及び記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-100774 Applicant：日本電気株式会社

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