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J-GLOBAL ID：200903075214065199
画像処理装置および方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
牛久 健司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994192259
Publication number (International publication number)：1996035818
Application date： Jul. 25, 1994
Publication date： Feb. 06, 1996
Summary：
【要約】【目的】 計測対象の位置を高速かつ高精度に計測できるようにする。【構成】 計測対象のモデルを撮像することによって得られたグレイ・レベル画像データが画像メモリ13に記憶される。グレイ・レベル画像データによって表される標準画像がモニタ16に表示される。オペレータによって指定されるウインドウ内のグレイ・レベル画像データが標準パターン・データとして登録される。計測対象を撮像によって得られたグレイ・レベル画像データが画像メモリ13に記憶される。対象画像データ上を標準パターン・データを含みうるウインドウで走査して,複数の代表画素位置において合致度が算出される。この合致度が最大となる画素位置を探索開始位置として計測位置が探索される。計測位置が画素の大きさによって規定される単位よりも下位の単位で算出される。
Claim (excerpt)：
対象を撮像し,対象を表す対象画像データを出力する撮像手段,上記撮像手段からの対象画像データを記憶する画像メモリ,上記画像メモリの対象画像データ上において複数の代表画素位置に関して特徴量をそれぞれ作成し,作成された特徴量が極値を示す代表画素位置を探索開始位置として決定する探索開始位置決定手段,上記探索開始位置を中心位置として探索経路模索領域内の各画素位置に関して特徴量をそれぞれ作成する特徴量作成手段,および上記探索経路模索領域内において特徴量が極値を示す画素位置を極値位置として見付け出し,見付け出した極値位置が上記探索開始位置である場合には探索開始位置を計測位置として決定し,見付け出した極値位置が上記探索開始位置でない場合には上記極値位置を新たな探索経路模索領域の中心位置として上記特徴量作成手段に探索経路模索領域内の各画素位置に関して特徴量を作成させ,さらに新たな探索経路模索領域の中心位置を今回の極値位置に更新しながら今回見付けた極値位置が前回の極値位置に一致するまで特徴量の作成と極値位置の検出を繰返し,一致した今回の極値位置を計測位置として決定する第1の制御手段,を備えた画像処理装置。
IPC (3)：
G01B 11/00
, G01B 11/24
, G06T 7/00
