固体電解質膜の製造方法、固体電解質膜用フィルム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：大川宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000137103
Publication number (International publication number)：2001319522
Application date： May. 10, 2000
Publication date： Nov. 16, 2001
Summary：

【要約】【課題】固体電解質膜の製造途中において、固体電解質膜となるフィルムが受けるダメージによりフィルムが劣化する状況を把握することができ、固体電解質膜の品質向上に貢献できる固体電解質膜の製造方法を提供する。【解決手段】固体電解質膜となるフィルム9を準備する準備工程と、フィルムに照射エネルギを照射する照射操作と、フィルム9を構成するポリマーに重合され得るモノマーを主要成分とする液状物をフィルム9に接触させる接触操作とを行い、フィルムにおける重合反応を促進させる重合工程と、フィルム9にイオン伝導機能を与える官能基を導入して固体電解質膜9Aとする導入工程とを順に実施する。フィルム9には劣化判定用のマーキング9xが施されている。重合工程における接触操作及び照射操作のうち少なくとも一方の後で、劣化判定用のマーキング9xの劣化状況を検査して、フィルム9の劣化状況を検査する検査操作が含まれている。

Claim (excerpt)：

固体電解質膜となるフィルムを準備する準備工程と、前記フィルムに照射エネルギを照射する照射操作と、前記フィルムを構成するポリマーに重合され得るモノマーを主要成分とする液状物を前記フィルムに接触させる接触操作とを行い、前記フィルムにおける重合反応を促進させる重合工程と、前記フィルムにイオン伝導機能を与える官能基を導入して固体電解質膜とする導入工程とを順に実施する固体電解質膜の製造方法において、前記準備工程における前記フィルムには劣化判定用のマーキングが施されており、前記重合工程における前記接触操作及び前記照射操作のうち少なくとも一方の後で、前記劣化判定用のマーキングの劣化状況を検査して、前記フィルムの劣化状況を検査する検査操作が含まれていることを特徴とする固体電解質膜の製造方法。

IPC (5)：

H01B 1/06 , C08J 7/00 305 , C08J 7/04 CER , H01M 8/02 , C08L 23:00

FI (5)：

H01B 1/06 A , C08J 7/00 305 , C08J 7/04 CER D , H01M 8/02 P , C08L 23:00

F-Term (27)：

4F006AA12 , 4F006AA18 , 4F006AB16 , 4F006AB24 , 4F006BA06 , 4F006CA08 , 4F006EA01 , 4F073AA01 , 4F073AA28 , 4F073BA07 , 4F073BA08 , 4F073BA15 , 4F073BA16 , 4F073CA02 , 4F073CA04 , 4F073CA41 , 4F073CA42 , 4F073CA43 , 4F073CA45 , 4F073CA47 , 4F073FA03 , 4F073FA05 , 5G301CD01 , 5G301CE01 , 5H026AA06 , 5H026CX05 , 5H026EE18

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