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J-GLOBAL ID:200903075290085042

動的光散乱式粒径分布測定装置および粒径分布の測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 藤本 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000207355
Publication number (International publication number):2002022642
Application date: Jul. 07, 2000
Publication date: Jan. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】 工場配管などの流れのあるところで、測定対象試料のブラウン運動速度を測定して、その粒径分布を求めることができる動的光散乱式粒径分布測定装置および粒径分布の測定方法を提供する。【解決手段】 溶媒中に散乱しブラウン運動する粒子Cを有する測定対象試料Sにレーザ光Laを照射して、前記粒子Cによる後方散乱光Lbを光検出器を用いて検出し、この後方散乱光Lbを用いて粒子径の分布を測定する動的光散乱式粒径分布測定装置1において、測定対象試料Sを流す配管2から分岐して測定対象試料Sの流れが無視できる程度に小さくなる液溜め部3aを形成する分岐管3と、この分岐管3の液溜め部3aを形成した部分に設けた光透過窓4aと、この光透過窓4aの近傍の分岐管3内から生じる後方散乱光Lbを光検出器に集光する光学系4bとを有する。
Claim (excerpt):
溶媒中に散乱しブラウン運動する粒子を有する測定対象試料にレーザ光を照射して、前記粒子による後方散乱光を光検出器を用いて検出し、この後方散乱光を用いて粒子径の分布を測定する動的光散乱式粒径分布測定装置において、測定対象試料を流す配管から分岐して測定対象試料の流れが無視できる程度に小さくなる液溜め部を形成する分岐管と、この分岐管の液溜め部を形成した部分に設けた光透過窓と、この光透過窓の近傍の分岐管内から生じる後方散乱光を光検出器に集光する光学系とを有することを特徴とする動的光散乱式粒径分布測定装置。

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