異常陰影候補検出処理システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳田征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000293354
Publication number (International publication number)：2002109510
Application date： Sep. 27, 2000
Publication date： Apr. 12, 2002
Summary：

【要約】【課題】医師等が被写体の放射線画像等を診断する際に、診断性能を向上させ得る支援情報を提供する。【解決手段】画像表示手段10が、画像読取装置等から入力した原画像データPに基づいて原画像を表示する。指標値算出手段20が、原画像データPに基づいて原画像中の全画素の指標値を算出し、指標値メモリ30が指標値算出手段20により算出された指標値の指標値データを記憶する。指標値表示手段40が、画像表示手段10に備えられたマウス等の位置指示手段による出力要求に応じて、出力要求を受けた位置の画素における指標値データを指標値メモリ30から呼び出し、画像表示手段10に出力して表示させる。

Claim (excerpt)：

被写体の放射線画像を表す放射線画像データに基づいて、該放射線画像中の各画素における悪性度および/または良性度を表す指標値を、前記放射線画像中の全ての画素について算出する指標値算出手段と、該指標値算出手段により算出された前記指標値を記憶する記憶手段と、前記放射線画像データを可視画像として出力する画像表示手段と、該画像表示手段により表示された前記放射線画像の所望の位置において、該位置の画素における前記指標値の出力を要求する位置指示手段と、該位置指示手段による出力要求に応じて、前記記憶手段に記憶された前記指標値の中から該出力要求を受けた位置の画素における前記指標値を出力して表示する指標値表示手段とを備えたことを特徴とする異常陰影候補検出処理システム。

IPC (3)：

G06T 1/00 290 , A61B 6/00 , G06T 7/00 200

FI (3)：

G06T 1/00 290 A , G06T 7/00 200 C , A61B 6/00 350 D

F-Term (40)：

4C093AA01 , 4C093AA26 , 4C093CA21 , 4C093DA06 , 4C093FD05 , 4C093FF07 , 4C093FF17 , 4C093FF18 , 4C093FF28 , 4C093FG16 , 4C093FH07 , 5B057AA08 , 5B057BA03 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB02 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CE03 , 5B057CE05 , 5B057CE06 , 5B057CH09 , 5B057DA08 , 5B057DA16 , 5B057DB02 , 5B057DB05 , 5B057DB09 , 5B057DC22 , 5L096AA03 , 5L096AA06 , 5L096BA06 , 5L096EA06 , 5L096EA07 , 5L096FA14 , 5L096GA17 , 5L096GA55

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

計算機支援画像診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-316679 Applicant：富士写真フイルム株式会社
実装部品検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-067600 Applicant：オムロン株式会社
陰影検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-247828 Applicant：東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝

Show all

Return to Previous Page