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J-GLOBAL ID:200903075365643208

2次元位置調整装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992307552
Publication number (International publication number):1994051831
Application date: Oct. 21, 1992
Publication date: Feb. 25, 1994
Summary:
【要約】【目的】温度ドリフトを補償しながら被試験サンプルを広い範囲で2次元的に移動させることが可能な2次元位置調整装置を提供すること。【構成】サンプル・ホルダー17′が被試験サンプルを表面上に保持する。可動支持体21は、ベース上に固定した1対のPZT同軸管24、26を有し、これら1対のPZT同軸管の一方の内側の同軸管に磁気手段32を設け、上記サンプル・ホルダーを磁気的に支持する。この可動支持体21の1対のPZT同軸管に供給する制御信号を調整し、上記サンプル・ホルダーの位置を2次元的に調整する。【効果】SMTの被試験サンプルの位置をプローブ・チップに対して2次元X-Y平面上の広い範囲に亘って高精度に調整出来る。
Claim (excerpt):
サンプルを表面上に保持するサンプル・ホルダーと、ベース上に固定した1対のPZT同軸管を有し、該1対のPZT同軸管の一方の内側の同軸管に磁気手段を設け、上記サンプル・ホルダーを磁気的に支持する可動支持体とを具え、上記1対のPZT同軸管に供給する制御信号を調整し、上記サンプル・ホルダーの位置を2次元的に調整することを特徴とする2次元位置調整装置。
IPC (3):
G05D 3/00 ,  G01B 7/34 ,  G12B 5/00

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