蛍光及び反射率撮像と分光のための方法及び装置並びに多数の測定装置による電磁放射線の同時測定のための方法及び装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： , ,
Agent (3)：松永宣行 , 小合宗一 , 佐藤玲太郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002551368
Publication number (International publication number)：2004520105
Application date： Dec. 18, 2001
Publication date： Jul. 08, 2004
Summary：

【解決手段】組織標本のような対象物、コンピュータチップのような産業上の対象物、又は顕微鏡、内視鏡、望遠鏡若しくはカメラのような光学システムで目視可能の他の任意の対象物から同時に画像及びスペクトルを提供する光学システムである。1実施例において、このシステムは、対象の原画像の様々な所望の波長範囲に対応する多数の画像を提供し、また所望であれば、スペクトルが得られまた装置を示す能力を強化する正確な場所の確認を提供する指向性のあるポインタを提供する。

Claim (excerpt)：

多数の測定装置による電磁放射の同時測定を容易にする方法であって、分光装置及び撮像装置のそれぞれによる受け取りのために向けられる電磁放射線ビームの第1及び第2の隣接光線グループを生じさせることを含み、前記生じさせることは、第1の前記測定装置による受け取りのために前記第1の光線グループを向けることを含み、前記向けることは前記前記ビーム中に反射面を配置することを含み、また前記向けることは、前記第2の光線グループが前記反射面を迂回することを可能とする間に、前記ビームから前記第1の光線グループを反射させるために前記ビーム中に反射面を配置することを含む、方法。

IPC (3)：

A61B1/00 , A61B1/04 , G01N21/64

FI (3)：

A61B1/00 300D , A61B1/04 360A , G01N21/64 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開昭59-040830
特開平4-060602
光ピックアップ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-067859 Applicant：シャープ株式会社