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J-GLOBAL ID:200903075420650707

分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数との同時測定方法およびその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 上島 淳一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000076122
Publication number (International publication number):2001264250
Application date: Mar. 17, 2000
Publication date: Sep. 26, 2001
Summary:
【要約】【課題】測定点を変えることなく被測定対象物における分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを同時に算出することができるようにし、また、被測定対象物における分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを得るための測定に要する測定時間を短縮化し、被測定対象物に与えるダメージを最小限にすることができるようにする。【解決手段】被測定対象物の測定点をずらすことなしに、単一光源を用いて位相SHG法による測定を行い、この測定により得られたフリンジをフィッティングすることにより、そのフィッティングカーブから分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数とを算出するようにした。
Claim (excerpt):
単一光源による位相第二高調波発生法により測定用参照試料を用いて被測定対象物に関するフリンジを得る第1のステップと、前記第1のステップにより得られた前記フリンジをフィッティングして実効的な二次非線形光学定数を得るとともに、該実効的な二次非線形光学定数の符号に基づいて分子の絶対配向方向を得る第2のステップとを有する分子の絶対配向方向と実効的な二次非線形光学定数との同時測定方法。
IPC (3):
G01N 21/45 ,  G01N 21/23 ,  G02F 1/37
FI (3):
G01N 21/45 A ,  G01N 21/23 ,  G02F 1/37
F-Term (22):
2G059AA05 ,  2G059BB15 ,  2G059EE04 ,  2G059EE09 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ21 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059PP01 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002BA01 ,  2K002CA06 ,  2K002DA04 ,  2K002GA10 ,  2K002HA20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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