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J-GLOBAL ID：200903075455638394

ガス分析装置

Inventor：
宮崎 直

About 宮崎 直

, 
川崎 一弘

About 川崎 一弘


Applicant, Patent owner：
日本分光株式会社

About 日本分光株式会社


Agent (1)： 岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995129042
Publication number (International publication number)：1996304282
Application date： Apr. 28, 1995
Publication date： Nov. 22, 1996
Summary：
【要約】【目的】 構造が簡単でしかも高堅牢性である、さらにいろいろな測定成分に対して高い選択性が得られるなどの長所を有する他、感度にも優れたガス分析装置を得ること。。【構成】 赤外光束を照射する光源34と、試料ガスが導かれ、前記光源34からの赤外光束が該試料ガスを通過するように設置された試料セル38と、吸収体が封入され、前記試料セル38を透過した赤外光束が該吸収体を通過するように設置され、赤外光束が該吸収体に吸収されるときに上昇する吸収体封入室内の温度による圧力増加を光学的に検知し、該圧力の増加値に基づき、試料ガス中の測定対象成分の濃度を測定する検出手段10a,10bと、を備えたガス分析装置において、前記検出手段10a,10bに封入される吸収体として、測定対象成分と同一成分のガスを用いることを特徴とするガス分析装置。
Claim (excerpt)：
赤外光束を照射する光源と、試料ガスが導かれ、前記光源からの赤外光束が該試料ガスを通過するように設置された試料セルと、吸収体が封入され、前記試料セルを透過した赤外光束が該吸収体を通過するように設置され、赤外光束が該吸収体に吸収されるときに上昇する吸収体封入室内の温度による圧力増加を光学的に検知し、該圧力の増加値に基づき、試料ガス中の測定対象成分の濃度を測定する検出手段と、を備えたガス分析装置において、前記検出手段に封入される吸収体として、測定対象成分と同一成分のガスを用いることを特徴とするガス分析装置。
IPC (2)：
G01N 21/61 ,  G01N 21/35
FI (2)：
G01N 21/61 ,  G01N 21/35 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
  • 特開昭54-121198
  • 気体膨脹型エネルギー測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-349470   Applicant：日本分光株式会社
  • 特開昭53-042890
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