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J-GLOBAL ID:200903075582714563

アンプルの外観検査装置及び検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 池内 寛幸 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993221533
Publication number (International publication number):1995071935
Application date: Sep. 07, 1993
Publication date: Mar. 17, 1995
Summary:
【要約】【目的】 他の装置におけるアンプルの搬送機構部分に設けることができ、アンプルを連続的に搬送しつつその外観検査を行うアンプルの外観検査装置及び検査方法を得る。【構成】 所定の軌道に沿ってアンプル1を搬送する搬送機構23,25の一部分にアンプルを自転させるために自転機構24,26を設け、照明装置10により自転する複数のアンプルに同時に照明を施し、撮影装置2により各アンプル1が所定の角度自転するごとにその像を撮影し、撮影された画像を画像処理装置30により処理して得られたアンプルの枝先の形状とあらかじめ記憶されている許容形状誤差データとを比較してアンプルの形状の良否を判定する。
Claim (excerpt):
アンプルを所定の軌道に沿って連続的に搬送する搬送機構と;前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方向に自転させる自転機構と;前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置と;前記照明手段により照明された所定数のアンプルの像を前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して撮影する撮影装置と;前記撮影装置からの画像信号から、前記アンプルの像の部分と前記照明装置の背光部分とを区別することにより前記アンプルの形状を認識し、前記認識されたアンプルの形状とあらかじめ記憶されている所定の許容形状誤差データとを比較し、前記認識されたアンプルの形状が前記許容形状誤差データの範囲から逸脱している時に外観不良であると判定する判定装置と;を具備するアンプルの外観検査装置。
IPC (4):
G01B 11/24 ,  A61J 1/06 ,  G01N 21/90 ,  H04N 7/18
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平2-042345
  • 特開平1-207607

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