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J-GLOBAL ID：200903075658976058
表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
山下 穣平
, 志村 博
, 永井 道雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005175105
Publication number (International publication number)：2006349463
Application date： Jun. 15, 2005
Publication date： Dec. 28, 2006
Summary：
【課題】 試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光を照射しても、強度が微弱なラマン散乱光を感度良く測定できる表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法を提供することにある。【解決手段】 試料を採取しレーザー光を照射して表面増強ラマン分光分析を行うための治具であって、基体上に複数の突起が近接して配列し、該突起の表面が金属膜で被覆されてなることを特徴とする表面増強ラマン分光分析用治具及びその製造方法。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料を採取しレーザー光を照射して表面増強ラマン分光分析を行うための治具であって、基体上に複数の突起が近接して配列し、該突起の表面が金属膜で被覆されてなることを特徴とする表面増強ラマン分光分析用治具。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (8)：
2G043BA14
, 2G043DA06
, 2G043EA03
, 2G043GA07
, 2G043GB02
, 2G043GB05
, 2G043GB16
, 2G043KA09
Cited by applicant (1)
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ラマン分光の測定方法および測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2001-295365
Applicant：株式会社東芝
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