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J-GLOBAL ID：200903075711030005

対応点探索装置および対応点探索方法

Inventor： 大島 光雄 ,  山田 識
Applicant, Patent owner： 沖電気工業株式会社
Agent (1)： 大垣 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995047591
Publication number (International publication number)：1996241410
Application date： Mar. 07, 1995
Publication date： Sep. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 誤対応が低減でき、且つ、処理時間が短縮できる対応点探索方法および対応点探索装置の提供。【構成】 画素ナンバーの小さい側または大きい側の順位が上位となる優先順位の組み合わせとして、優先順位組を設定する。次に、互いに異なる複数の優先順位組の下でそれぞれ、優先順位の最も上位の画素どうしを対応点候補の中から仮対応点として選択し、さらに、当該選択に漏れた対応点候補のみについて、当該優先順位組みの下で優先順位の最も上位の画素どうしを仮対応点として順次に選択する。そして、互いに異なる優先順位組のものでも仮対応点の位相差が一致した仮対応点を対応点として選択する。

Claim (excerpt)：

ステレオ画像として入力された左右画像中の同一のエピポーラライン上の各画素の特徴値どうしを比較するための手段を具え、該特徴値どうしの差が一定範囲内の画素どうしを対応点候補として選択するための手段を具え、選択された該対応点候補を記憶するための手段を具え、前記エピポーラライン上の画素ナンバーの小さい側または大きい側の順位が上位となる優先順位を、左画像中の前記対応点候補の画素と右画像中の前記対応点候補の画素とにそれぞれ設定することにより、左右画像のそれぞれの優先順位の組み合わせとして、優先順位組を設定するための設定手段を具え、互いに異なる複数の前記優先順位組の下でそれぞれ、前記優先順位の最も上位の画素どうしを該対応点候補の中から仮対応点として選択し、さらに、当該選択に漏れた対応点候補のみについて、当該優先順位組みの下で前記優先順位の最も上位の画素どうしを仮対応点として順次に選択するための手段を具え、選択された該仮対応点を記憶するための手段を具え、互いに異なる複数の前記優先順位組の下でそれぞれ選択された前記仮対応点の位相差どうしを比較して、該位相差どうしが実質的に一致している当該仮対応点どうしを対応点として選択するための手段を具えてなることを特徴とする対応点探索装置。

IPC (4)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G06T 15/00

FI (4)：

G06F 15/62 415 ,  G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 V ,  G06F 15/62 350 V