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J-GLOBAL ID：200903075757804692

超音波検査装置

Inventor： 小林正基
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 伊東 哲也 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997291813
Publication number (International publication number)：1999118775
Application date： Oct. 09, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：

【要約】【課題】 被検物体が欠陥品か否かを自動的・定量的に判断する装置を提供する。【解決手段】 超音波ビームを走査しつつ被検物体に照射し、該被検物体からの超音波エコー信号を受信して映像化しCモード画像として表示する超音波映像装置を備えた超音波検査装置において、Cモード画像上に被検物体の内部欠陥の情報を表示する手段と、該Cモード画像から被検物体の形状を抽出する手段と、該抽出された被検物体の面積を算出する手段と、該抽出された被検物体内に含まれる欠陥の面積を算出する手段と、前記被検物体の面積に対する欠陥面積の割合から、被検物体が欠陥であるか否かを自動的に判断する手段を設ける。

Claim (excerpt)：

超音波ビームを走査しつつ被検物体に照射し、該被検物体からの超音波エコー信号を受信して映像化しCモード画像として表示する超音波映像装置を備えた超音波検査装置において、前記Cモード画像上に被検物体の内部反射エコーの情報を表示する手段と、該Cモード画像から被検物体の形状を抽出する手段と、該抽出された被検物体の面積を算出する手段と、該抽出された被検物体内に含まれる欠陥の面積を算出する手段と、前記被検物体の面積に対する欠陥面積の割合から、被検物体が欠陥であるか否かを自動的に判断する手段とを有することを特徴とする超音波検査装置。

IPC (2)：

G01N 29/22 501 ,  G01B 17/00

FI (2)：

G01N 29/22 501 ,  G01B 17/00 C