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J-GLOBAL ID：200903075798159831

分光測定器

Inventor： 浜崎 正治
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 船橋 國則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998236630
Publication number (International publication number)：2000065643
Application date： Aug. 24, 1998
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：

【要約】【課題】 レベルの異なる出力が存在するスペクトル分布の場合、1回の測定では対処できなく、露光時間等を変えて複数回測定する必要がある。【解決手段】 測定光としてラインビームを、また光検出器としてCCDエリアセンサ11をそれぞれ使用するとともに、グレーティング13で回折され、かつ測定サンプル14を経たラインビームに対して、画素の垂直列方向がラインビームのビーム長方向に一致するようにCCDエリアセンサ11を配し、1回の露光で得られた各画素の信号電荷を垂直列方向において画素単位でもしくは複数画素分を加算して出力するようにする。

Claim (excerpt)：

測定サンプルの分光特性を測定する分光測定器であって、ラインビームを発する光源と、前記光源から発せられたラインビームを回折する回折手段と、前記回折手段によって回折され、かつ前記測定サンプルを経たラインビームを受光するとともに、このラインビームに対してそのビーム長方向に画素の垂直列方向が一致するように配されたエリアイメージセンサと、1回の露光で得られた前記エリアイメージセンサの各画素の信号電荷を、前記垂直列方向において画素単位でもしくは複数画素分を加算して出力すべく前記エリアイメージセンサを駆動する駆動手段とを備えたことを特徴とする分光測定器。

F-Term (6)：

2G020CA03 ,  2G020CB51 ,  2G020CB54 ,  2G020CC04 ,  2G020CD01 ,  2G020CD33