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J-GLOBAL ID：200903075856903244
欠陥検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994313304
Publication number (International publication number)：1996166355
Application date： Dec. 16, 1994
Publication date： Jun. 25, 1996
Summary：
【要約】【目的】 処理すべき画像のデータ量を少なくし、短い処理時間で欠陥を検出することを目的とする。【構成】 ビデオカメラ3によって液晶表示パネルの絶縁ストライプ2を撮影し、エッジ抽出部4によってノイズ成分を除去した後、画像信号から絶縁ストライプ2の一端側と他端側とで幅方向のエッジを検出し、各エッジの中心座標を検出して両者を結び、その中心線上で欠陥を判別する。
Claim (excerpt)：
液晶表示パネルの電極パターン間を絶縁する帯状の絶縁ストライプが電気的に短絡しているような欠陥を検査するための欠陥検査装置であって、前記絶縁ストライプを撮像するための撮像手段、および前記撮像手段の画像出力に基づいて、前記帯状の絶縁ストライプにおける長手方向に延びる中線上の欠陥を判別する判別手段を備えた、欠陥検査装置。
IPC (4)：
G01N 21/88
, G02F 1/13 101
, G06T 7/00
, G09F 9/00 352
