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J-GLOBAL ID：200903075988155468

分析装置

Inventor： 浅野 一朗 ,  木原 信隆 ,  戸川 進
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 山村 喜信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994331695
Publication number (International publication number)：1996159968
Application date： Dec. 08, 1994
Publication date： Jun. 21, 1996
Summary：

【要約】【目的】 分析装置の保守・交換を容易にする。【構成】 たとえばガス分析装置において、光源2、セル1、赤外線検出器3などを含む検出部10の第1の基板13に、EPROM7を実装する。このEPROM7には、検出部10のもつ個体差によって決まる係数が記憶されており、第2の基板23に実装したCPU21が、上記係数および検出値に基づいて演算を行う。

Claim (excerpt)：

検出器からの出力をプリアンプで増幅した検出データを出力する検出部と、この検出部の個体差によって決まる1以上の係数を記憶している係数記憶部と、上記係数および検出データに基づいて分析値を算出する演算部とを備えた分析装置において、上記係数記憶部を構成する不揮発性メモリを含む部分を、上記演算部に対して取り外し自在としたことを特徴とする分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/61

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭63-049128
  
• 特開昭63-218842
  
• 電子内視鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-227559   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平3-001847
  
• 特開平3-109059