Pat

J-GLOBAL ID：200903076031710253

粒子計数装置

Inventor： 久保 良宏
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992079238
Publication number (International publication number)：1993240769
Application date： Feb. 29, 1992
Publication date： Sep. 17, 1993
Summary：

【要約】【目的】 レーザヘッドの出力変動などで生じる背景散乱光の変動に起因する背景ノイズをキャンセルして、S/N比を改善することが可能な粒子計数装置をうる。【構成】 フローセル1に照射光窓2とライトトラップ8とが相対して設けられて、レーザビーム5を集光レンズ7で集光してフローセル1に入射する照射光学系3が、照射光窓2の外側に配置され、かつライトトラップ8の端部に試料流体用配管9が接続されている。そして、レーザビーム5の光軸に交差する方向でフローセル1に設けた散乱光窓11の外側に、粒子から生じた散乱光の受光レンズ13が配置されて、その結像位置にフォトダイオード14a,14b がレーザビーム5の光軸と平行方向に並べて配置され、フォトダイオード14a,14b のそれぞれが出力した2つの検出信号を、差または商で演算処理する演算回路15が設けられて、この演算回路15の出力信号に基づいて粒子を計数する。

Claim (excerpt)：

フローセル内に噴出させた試料流体にレーザビームを照射して、試料流体に含まれた粒子から生じる散乱光を検出して、前記粒子を計数する粒子計数装置において、前記試料流体の流動方向とレーザビームの光軸とが平行にされ、かつ前記散乱光を検出する2個の光検出器が、レーザビームの光軸と平行方向に並べて配置され、この2個の光検出器から出力される2つの信号を、差または商で電気的に演算する演算手段が設けられ、この演算手段の出力信号に基づいて前記粒子を計数することを特徴とする粒子計数装置。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02