Pat

J-GLOBAL ID：200903076044411395

超微量不純物成分分析のための溶液試料の溶媒除去・濃縮方法および不純物定量方法

Inventor： 水野 薫
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 田村 弘明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996266281
Publication number (International publication number)：1998111225
Application date： Oct. 07, 1996
Publication date： Apr. 28, 1998
Summary：

【要約】【課題】 環境からの微粒子による汚染や試料容器からの汚染を防止しながら溶液試料の溶媒を除去して濃縮する、超微量不純物成分分析のための溶液試料の溶媒除去・濃縮方法及び不純物定量方法を提供する。【解決手段】 誘導結合プラズマ質量分析法、原子吸光法やイオンクロマトグラフ法等で溶液試料中の極微量不純物成分を分析する際に、溶液試料の溶媒を除去することにより該試料を濃縮するために、試料容器に該試料を入れ、該試料容器を吸排気口を持つ密閉容器に入れて、該密閉容器内を排気することにより減圧とし、該水溶液試料の溶媒を除去し、濃縮することを特徴とする超微量不純物成分分析のための溶液試料の溶媒除去・濃縮方法及び不純物定量方法。

Claim (excerpt)：

溶液試料中の極微量不純物成分を分析する際に、溶液試料の溶媒を除去することにより該試料を濃縮するために、試料容器に該試料を入れ、該試料容器を吸排気口を持つ密閉容器に入れて、該密閉容器内を排気することにより減圧とし、該水溶液試料の溶媒を除去し、濃縮することを特徴とする超微量不純物成分分析のための溶液試料の溶媒除去・濃縮方法。

IPC (3)：

G01N 1/36 ,  G01N 1/10 ,  G01N 33/18

FI (3)：

G01N 1/28 Z ,  G01N 1/10 E ,  G01N 33/18 A