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J-GLOBAL ID：200903076112447670
粒子の位置・温度測定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤谷 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997098488
Publication number (International publication number)：1998281882
Application date： Mar. 31, 1997
Publication date： Oct. 23, 1998
Summary：
【要約】【課題】飛行粒子1個1個の位置や温度を正確に測定すること【解決手段】少なくとも2つの波長における光強度を同時に撮像できるカメラにより、飛行粒子を異なる波長の光強度画像として撮像する。1粒子の各光強度画像において、ある光強度をとる画素数の1粒子当たりの全画素数に対する割合を相対度数とし、この相対度数のある光強度までの加算値をその光強度における累積相対度数として求める。各光強度画像において、それぞれの累積相対度数を同一値で一方向に変化させて、その時の累積相対度数に対応するそれぞれの光強度以上のそれぞれの画素領域の共通領域C(L) が最小となる最小共通領域を求め、その最小共通領域の画素位置又は/及び光強度に基づき、粒子の位置又は/及び温度を求める。
Claim (excerpt)：
少なくとも2つの波長における光強度を同時に撮像できるカメラにより、飛行粒子を異なる波長の光強度画像として撮像し、1粒子の前記各光強度画像において、ある光強度をとる画素数の1粒子当たりの全画素数に対する割合を相対度数とし、この相対度数のある光強度までの加算値をその光強度における累積相対度数として求め、前記各光強度画像において、それぞれの前記累積相対度数を同一値で一方向に変化させて、その時の累積相対度数に対応するそれぞれの光強度以上のそれぞれの画素領域の共通領域が最小となる最小共通領域を求め、その最小共通領域の画素位置又は/及び光強度に基づき、前記粒子の位置又は/及び温度を求めることを特徴とする粒子の位置・温度測定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01J 5/48 D
, G01J 5/00 B
