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J-GLOBAL ID：200903076126040840

蛍光量測定装置

Inventor： 芦田 武 ,  今野 裕之
Applicant, Patent owner： スズキ株式会社
Agent (1)： 高橋 勇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997189130
Publication number (International publication number)：1999023467
Application date： Jun. 30, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】 測定対象物の濃度が低くその発する蛍光が微弱なときも、また、強い励起光では受光部又は計数部の能力を越える蛍光を発する程濃度が高い場合にも良好に検量を行うこと。【解決手段】 励起光を測定対象物12に照射する光源部10と、この光源部10から照射された励起光に応じて測定対象物12から発せられた蛍光を受光する受光部14と、この受光部14で受光した光子数を計数する計数部16と、この計数部166による計数結果に応じて蛍光量を検量する検量部18とを備えている。しかも、光源部10が、測定対象物に照射する励起光の強度を変更する照射強度変更機能20を備えている。さらに、検量部18が、照射強度変更機能20によって変更された励起光別に測定対象物の濃度を検量する照射強度別検量機能22を備えた。

Claim (excerpt)：

励起光を測定対象物に照射する光源部と、この光源部から照射された励起光に応じて前記測定対象物から発せられた蛍光を受光する受光部と、この受光部で受光した光子数を計数する計数部と、この計数部による計数結果に応じて蛍光量を検量する検量部とを備えた蛍光量測定装置において、前記光源部が、前記測定対象物に照射する励起光の強度を変更する照射強度変更機能を備え、前記検量部が、前記照射強度変更機能によって変更された励起光別に前記測定対象物の濃度を検量する照射強度別検量機能を備えたことを特徴とする蛍光量測定装置。