発光素子の検査方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：高矢諭 , 牧野剛博 , 松山圭佑
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003103007
Publication number (International publication number)：2004311209
Application date： Apr. 07, 2003
Publication date： Nov. 04, 2004
Summary：

【課題】計測対象の設置環境を問わず、高い信頼性と、幅広い拡張性を実現する。【解決手段】恒温槽31〜34内に配設された有機El素子8の発光特性を検査する際に、該有機EL素子8の光を、光ファイバ41を用いて、恒温槽31〜34外に配設したカラーCCDカメラ42まで導く。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

試験空間内に配設された発光素子の発光特性を検査する際に、発光素子の光を、光ファイバを用いて、試験空間外に配設した光検知手段まで導くことを特徴とする発光素子の検査方法。

IPC (3)：

H05B33/10 , G09F9/00 , H05B33/14

FI (3)：

H05B33/10 , G09F9/00 352 , H05B33/14 A

F-Term (12)：

3K007AB18 , 3K007DB03 , 3K007FA00 , 5G435AA04 , 5G435AA17 , 5G435BB05 , 5G435BB06 , 5G435CC09 , 5G435CC12 , 5G435FF08 , 5G435KK05 , 5G435KK10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開昭62-133327
特開平2-105026
特開平1-187419

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