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J-GLOBAL ID：200903076234335547

ICタグ・センサ付き軸受の異常検査システム

Inventor： 日置 章一 ,  伊藤 浩義 ,  笹部 光男
Applicant, Patent owner： NTN株式会社
Agent (2)： 野田 雅士 ,  杉本 修司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003191672
Publication number (International publication number)：2005024441
Application date： Jul. 04, 2003
Publication date： Jan. 27, 2005
Summary：

【課題】多数の軸受の異常発生の検査を、軸受運転状態で簡単に行うことができ、軸受の異常発生を未然に防止することのできる簡素で安価な異常検査システムを提供する。【解決手段】このシステムは、機械設備10に組込まれた転がり軸受1の異常検査システムである。軸受1をICタグ・センサ付き軸受1Aとし、そのICタグ3に対して記憶情報の読取りおよび電源回路5に対する給電を非接触で行うタグ読書き端末2を設ける。ICタグ・センサ付き軸受1Aは、ICタグ3と、温度センサ4と、電源回路5とを軸受1に設けたものである。上記電源回路5は、上記ICタグ3に内蔵されまたはこのICタグ3とは別体とされて非接触で軸受外部から給電され、上記センサ4を駆動するものである。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

機械設備に組込まれた転がり軸受を、ICタグと、温度センサと、上記ICタグに内蔵されまたはこのICタグとは別体とされて非接触で軸受外部から給電され上記センサを駆動する電源回路とを有するICタグ・センサ付き軸受とし、上記ICタグに対する情報の読書きと、上記電源回路に対する給電とを非接触で行うタグ読書き端末を設けたICタグ・センサ付き軸受の異常検査システム。

IPC (4)：

G01M13/04 ,  F16C19/52 ,  F16C41/00 ,  G01S13/74

FI (4)：

G01M13/04 ,  F16C19/52 ,  F16C41/00 ,  G01S13/74

F-Term (25)：

2G024AC02 ,  2G024BA12 ,  2G024CA13 ,  2G024CA17 ,  2G024DA09 ,  2G024FA06 ,  3J101AA02 ,  3J101AA32 ,  3J101AA42 ,  3J101AA52 ,  3J101AA62 ,  3J101BA56 ,  3J101FA22 ,  3J101FA24 ,  3J101GA03 ,  3J101GA42 ,  5J070AB07 ,  5J070AE20 ,  5J070AK14 ,  5J070BC06 ,  5J070BC07 ,  5J070BC19 ,  5J070BC20 ,  5J070BC24 ,  5J070BC33