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J-GLOBAL ID：200903076244841190

三次元物体表面の非接触測定装置

Inventor： キュームシュテッツ ペーター ,  シュライバー ヴォルフガング ,  ノートニィ グンター
Applicant, Patent owner： フラウンホッファー-ゲゼルシャフト ツァー フェーデルング デア アンゲバンテン フォルシュング エー.ファー.
Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997539429
Publication number (International publication number)：2000509505
Application date： Apr. 30, 1997
Publication date： Jul. 25, 2000
Summary：

【要約】本発明は、物体表面にストリップ構造体を投影する投影装置と、物体表面上の測定ポイントにてストリップ構造体を記録する観測装置と、物体を観測装置と共に第1回転軸の回りに回転する装置と、所定の座標系内のストリップ構造体の位相値を用いて測定ポイントの座標を決定する評価装置とを備え、測定室内の三次元物体の表面を非接触にて測定するための装置に関する。物体を第1回転軸(D1)から独立して少なくとも第2回転軸の回りを移動するための装置(8)と、較正ユニットとが設けられ、較正ユニット(10)は所定の座標系内にて第2回転軸(D2)の位置を決定することができる。

Claim (excerpt)：

物体表面にストリップ構造体を投影する投影装置と、物体表面上の測定ポイントにてストリップ構造体を検知する観測装置と、観測装置と共に物体を第1回転軸の回りに回転する装置と、所定の座標系内のストリップ構造体の位相値を用いて測定ポイントの座標を決定する評価装置とを備え、精密測定のための空間内の三次元物体の表面を非接触にて測定するための装置において、 物体を第1回転軸(D1)から独立して少なくとも第2回転軸の回りを移動させるための装置(8)と、較正ユニットとが設けられ、較正ユニット(10)は所定の座標系内にて第2回転軸(D2)の位置を決定することができることを特徴とする装置。