Pat

J-GLOBAL ID：200903076274835640

排ガス中の微量有機化合物の測定装置

Inventor： 宮澤 邦夫 ,  中島 章裕
Applicant, Patent owner： 日本鋼管株式会社
Agent (1)： 田中 政浩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996050231
Publication number (International publication number)：1997243601
Application date： Mar. 07, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】 排ガス中のクロロベンゼン類・クロロフェノール類をリアルタイムで測定し、ダイオキシン類を連続的に求めることができる装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、レーザーイオン化質量分析装置と、一定量の排ガスを該質量分析装置のイオン化室に導入する排ガス試料導入装置と、該質量分析装置で測定されたクロロベンゼン類又はクロロフェノール類の質量スペクトルを予め求めておいたクロロベンゼン類又はクロロフェノール類とダイオキシン類との相関関係からダイオキシン類の濃度に換算するデータ処理装置とからなる排ガス中のダイオキシン類の間接測定装置によって解決される。

Claim (excerpt)：

レーザーイオン化質量分析装置と、一定量の排ガスを該質量分析装置のイオン化室に導入する排ガス試料導入装置と、該質量分析装置で測定されたクロロベンゼン類又はクロロフェノール類の質量スペクトルを予め求めておいたクロロベンゼン類又はクロロフェノール類とダイオキシン類との相関関係からダイオキシン類の濃度に換算するデータ処理装置とからなる排ガス中のダイオキシン類の間接測定装置

IPC (6)：

G01N 27/62 ,  C07D319/24 ,  G01N 21/63 ,  G01N 27/64 ,  G01N 31/00 ,  H01J 49/10

FI (6)：

G01N 27/62 V ,  C07D319/24 ,  G01N 21/63 Z ,  G01N 27/64 B ,  G01N 31/00 V ,  H01J 49/10