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J-GLOBAL ID:200903076280642489

蛍光分光画像計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993115689
Publication number (International publication number):1994331441
Application date: May. 18, 1993
Publication date: Dec. 02, 1994
Summary:
【要約】【目的】 被検体から発せられる蛍光を被検体上の各点毎に分光計測して、2次元分光画像情報を得る。【構成】 励起用レーザー10から発せられたレーザービーム11を水平ビーム偏向器14および垂直ビーム偏向器15により偏向させて、該レーザービーム11により被検体17を2次元走査する。このレーザービーム照射により被検体17から発せられた蛍光12をダイクロイックミラー13によりレーザービーム11の光路から分離させ、この蛍光12をビームスプリッタ20、ミラー21、22および傾斜ミラー23に導いて干渉させ、この干渉による空間的インターフェログラム30を1次元アレイセンサー25で検出し、その検出信号Sを信号処理部28においてフーリエ変換する。
Claim (excerpt):
励起光としてのレーザービームを発する励起光源と、このレーザービームを2次元的に偏向させて被検体上で走査させる走査手段と、このレーザービームの照射を受けることにより前記被検体から発せられた蛍光を前記レーザービームの光路から分離させる光学系と、この光学系により前記光路から分離した前記蛍光に干渉を生じさせ、この干渉による蛍光の明暗を検出して、その検出信号をフーリエ変換するフーリエ分光計測系とからなる蛍光分光画像計測装置。
IPC (3):
G01J 3/45 ,  G01J 3/443 ,  G01N 21/64
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特表平5-503149
  • 特開平1-316620
  • 特開昭54-092293
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