Pat
J-GLOBAL ID:200903076307408238
ポリッシング装置における排気及び排液処理装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
渡邉 勇 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994211997
Publication number (International publication number):1995108458
Application date: Aug. 12, 1994
Publication date: Apr. 25, 1995
Summary:
【要約】【目的】 ポリッシング装置をクリーンルーム内に設置することができ、ポリッシング装置から排出された排気ガス及び研磨排液を処理することができるポリッシング装置における排気及び排液処理装置を提供する。【構成】 半導体ウエハ4と研磨布6とを接触させて相対運動させ、これらの接触面に供給した研磨砥液によって、半導体ウエハ4の接触面を研磨するポリッシング装置1から排出される排気ガス及び研磨排液を処理するポリッシング装置における排気及び排液処理装置であって、ポリッシング装置1を覆う隔壁2内に排気ダクト25を設け、排気ダクト25を排風装置11を介してガス除害塔12に連通し、ポリッシング装置1の研磨布6の下方に排液受け26を設け、排液受け26を排液処理装置10に連通させた。
Claim (excerpt):
半導体ウエハと研磨布とを接触させて相対運動させ、これらの接触面に研磨砥液を供給しつつ、該半導体ウエハの接触面を研磨するポリッシング装置から排出される排気ガス及び研磨排液を処理するポリッシング装置における排気及び排液処理装置であって、前記ポリッシング装置を覆う隔壁内に排気ダクトを設け、該排気ダクトを排風装置を介してガス除害塔に連通し、前記ポリッシング装置の研磨布の下方に排液受けを設け、該排液受けを排液処理装置に連通させたことを特徴とするポリッシング装置における排気及び排液処理装置。
IPC (10):
B24B 55/03
, B01D 21/00 ZAB
, B01D 24/00
, B01D 36/04
, B01D 53/18 ZAB
, B01D 53/34 ZAB
, B01D 53/77 ZAB
, B24B 37/04
, B24B 55/06
, C02F 1/52 ZAB
FI (2):
B01D 29/08 540 A
, B01D 53/34 ZAB C
Patent cited by the Patent: