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J-GLOBAL ID：200903076309568526

表面プラズモン共鳴法によるサンプル試料の測定方法及び装置

Inventor：
藤井 永治

About 藤井 永治


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005163901
Publication number (International publication number)：2006337244
Application date： Jun. 03, 2005
Publication date： Dec. 14, 2006
Summary：
【課題】外部振動を利用した表面プラズモン共鳴センサー装置において、同一センサーチップ上で、少なくとも2以上の試料を含むサンプルの分析方法および装置を提供する。【解決手段】リガンドを固定化するスペーサー分子を異なる構成にすることにより、スペーサー分子毎に周波数特性が変化する。この周波数特性の違いによって同一センサーチップ上で、各リガンド分子に対応して結合するアナライト分子を含む複数種類のサンプルの多試料を測定可能となる。【選択図】図7
Claim (excerpt)：
表面プラズモン共鳴法用法においてセンサー表面に外部振動を印加し、外部振動に対する共鳴角の周波数特性により、サンプル中の測定分子であるアナライト分子と前記アナライト分子と結合するリガンド分子の相互作用を分析する手段であって、前記リガンド分子を固定化するスペーサー分子の構成が異なることを特徴としたサンプルの測定方法。
IPC (3)：
G01N 21/27 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/543
FI (3)：
G01N21/27 C ,  G01N33/53 D ,  G01N33/543 595
F-Term (14)：
2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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