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J-GLOBAL ID：200903076345804848
表面波による試験体の劣化度等評価方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
北村 光司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997141005
Publication number (International publication number)：1998318995
Application date： May. 14, 1997
Publication date： Dec. 04, 1998
Summary：
【要約】【課題】 熱脆化等の材料劣化や粒界腐食等の損傷を、特に現場において非破壊的手法により評価することの可能な劣化度等評価方法を提供すること。【解決手段】 超音波を探触子21から試験体Sに入射することにより試験体S表面に表面波P5を発生させる。探触子21が円弧状の振動子21aを有し、試験体S表面から直接反射する反射波P2と表面波P5に起因する漏洩波P4とを振動子21aにより受信し、これら反射波P2及び漏洩波P4を比較することで、表面波P5の音速を求める。この試験体の表面波P5音速により、試験体Sの劣化又は損傷の程度を評価する。表面波音速又はその代表値に実質的に超音波の波長を乗ずることで試験体表面の損傷の深さを推定することができる。
Claim (excerpt)：
超音波を探触子(21,61)から試験体(S)に入射することにより試験体(S)表面に表面波(P5)を発生させると共に、この探触子(21,61)により前記表面波(P5)に起因する漏洩波(P4,R)を受信し、この試験体(S)の表面波(P5)音速により試験体(S)の劣化又は損傷の程度を評価することを特徴とする表面波による試験体の劣化度等評価方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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