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J-GLOBAL ID：200903076361408685

光による非接触式金属表面粗さの計測方法及びその計測方法に使用する標準片

Inventor： 青木 茂
Applicant, Patent owner： 株式会社青木精機製作所
Agent (1)： 佐藤 彰芳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994098123
Publication number (International publication number)：1995280541
Application date： Apr. 12, 1994
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 簡易にJISパラメータによる粗さ値を得ることができるようにした光による非接触式金属表面粗さの計測方法及びその計測方法に使用する標準片を提供する。【構成】 光源から矢印Aのように光を表面に当てると入射角と同角度で反射する光Bが正反射光となり実線iのようにB方向にのみ強い光分布をもつ。また、どの方向から見ても同じように見える光cは散乱反射であり点線iiのように分布する。そして、その中間にある分布が表面に粗さがある場合で二本線iiiで示す分布となり、このため見る方向で色合いが異なる。ここで、材質判定用の標準片を製作するについて、表面粗さや反射光分布特性を特定、即ち、表面形状に加えて見る方向性等を特定してしまえば、反射率の違いと照射する光の種類(特性)が判かれば種々の金属表面、換言すると擬似的な特定金属表面を得られることとなり、これは種々の金属の表面色を作れることを意味する。

Claim (excerpt)：

被計測対象面へ照射した光の反射光量と、少なくとも加工法別に中心線平均粗さを形成した標準片への照射反射光量とを比較することを特徴とする光による非接触式金属表面粗さの計測方法。

IPC (2)：

G01B 11/30 102 ,  G01N 1/00 102