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J-GLOBAL ID：200903076432379940
蛍光顕微鏡
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996033851
Publication number (International publication number)：1997229861
Application date： Feb. 21, 1996
Publication date： Sep. 05, 1997
Summary：
【要約】【課題】 デフォーカス光を除去して、被測定物の表面に限らず内部で発生した2次元蛍光像をもコントラスト良く検出する。【解決手段】 レーザ光源101 〜10N から出力された互いにインコヒーレントなN個の励起光A1 〜AN それぞれは、偏光ビームスプリッタ121 〜12Nによって2分岐され、可動鏡15および位相調整板171 〜17N によってその2光束間に所定の位相差が設定された後、被測定物40に入射されて干渉縞を形成する。被測定物40中の励起光強度分布は、N個の励起光A1 〜AN ごとに形成された干渉縞の強度分布の総和となる。N個の励起光A1 〜AN それぞれについて2光束間に所定の位相差を与えたときに発生する2種類の蛍光像それぞれを光検出器52で検出し、演算部53にてこれら蛍光像の差の絶対値をとる。
Claim (excerpt)：
被測定物に励起光を照射して発生した蛍光像を観察する蛍光顕微鏡であって、互いにインコヒーレントな2以上の所定数の励起光を発生する励起光発生手段と、前記所定数の励起光それぞれを2光束に分岐する励起光分岐手段と、前記所定数の励起光それぞれについて、前記励起光分岐手段によって分岐されて形成された前記2光束間の位相差を調整する位相調整手段と、前記所定数の励起光それぞれについて、前記位相調整手段によって位相調整された前記2光束を互いに所定の角度で交差させて干渉させ、前記被測定物中の所定平面に平行な干渉縞を形成する励起光照明手段と、前記所定平面で発生した蛍光像を観察する蛍光像観察手段と、を備えることを特徴とする蛍光顕微鏡。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/64 E
, G02B 21/16
