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J-GLOBAL ID:200903076476189952
半導体基板の平坦化装置および平坦化方法
Inventor:
,
,
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005230205
Publication number (International publication number):2007044786
Application date: Aug. 09, 2005
Publication date: Feb. 22, 2007
Summary:
【課題】 20〜50μmと極薄の半導体基板とするための基板裏面を平面研削・研磨する生産性の高いインライン方式の平坦化装置の提供。【解決手段】 基板収納ステ-ジ101を室外に、基板エッヂ把持型第一搬送ステ-ジ103、室内に時計廻り方向に基板ロ-ディング/アンロ-ディングステ-ジs1、粗研削ステ-ジs2、中仕上研削ステ-ジs3および精密研削ステ-ジs4の4つのステ-ジを1台のインデックス回転テ-ブル2に同心円上に配置した研削加工ステ-ジ104、一対の基板仮置台105a,105b、2枚の基板を同時に研磨できる研磨加工ステ-ジ106、基板エッジ把持型第二搬送ステ-ジ108、および洗浄ステ-ジ109を備える平坦化装置100。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
基板収納ステ-ジを室外に、研削加工ステ-ジ、研磨加工ステ-ジ、および洗浄ステ-ジを室内に備える平坦化装置において、
該平坦化装置の正面側から背面側に向かって、室外の左側に基板収納ステ-ジを設け、
室内においては、室内の前列目に前記基板収納ステ-ジ近傍位置に基板エッジ把持型第一搬送ステ-ジ、中央に前後に設けた一対の基板仮置台、前側右位置にパッドコンディショナ1台を備える2枚の基板を同時に研磨できる研磨加工ステ-ジ、およびその研磨加工ステ-ジの右横に前後に設けた一対の基板洗浄ステ-ジを設け、
室内の後列目の中央に、時計廻り方向に基板ロ-ディング/アンロ-ディングステ-ジ、粗研削ステ-ジ、中仕上研削ステ-ジおよび精密研削ステ-ジの4つのステ-ジを1台のインデックス回転テ-ブルに同心円上に配置した研削加工ステ-ジを設け、および、
前記研削加工ステ-ジと研磨加工ステ-ジとの中間位置であって、研削加工ステ-ジの基板ロ-ディング/アンロ-ディングステ-ジに対し基板エッヂ把持型第一搬送ステ-ジとは略点対称の位置に基板エッジ把持型第二搬送ステ-ジを設ける、
ことを特徴とする基板用平坦化装置。
IPC (4):
B24B 7/04
, B24B 37/04
, B24B 41/06
, H01L 21/304
FI (5):
B24B7/04 Z
, B24B37/04 Z
, B24B41/06 A
, H01L21/304 621B
, H01L21/304 622L
F-Term (18):
3C034AA07
, 3C034AA13
, 3C034AA17
, 3C034AA19
, 3C034BB84
, 3C034DD10
, 3C043BA04
, 3C043BA09
, 3C043BA17
, 3C043CC04
, 3C043CC07
, 3C043DD11
, 3C058AA04
, 3C058AA07
, 3C058AB03
, 3C058CB03
, 3C058CB05
, 3C058DA17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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特開昭60-76959号公報
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平面加工装置及び平面加工方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-321432
Applicant:株式会社東京精密
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半導体基板のクラックの有無を検査する表面検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-330987
Applicant:株式会社岡本工作機械製作所
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