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J-GLOBAL ID：200903076499772302

フィルム評価方法およびフィルム評価装置

Inventor： 鈴木 孝志 ,  廣瀬 修
Applicant, Patent owner： 住友化学工業株式会社
Agent (1)： 原 謙三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998190773
Publication number (International publication number)：2000019064
Application date： Jul. 06, 1998
Publication date： Jan. 21, 2000
Summary：

【要約】【課題】 液晶表示素子等に用いられる拡散フィルムの特性を正確に評価可能なフィルム評価方法およびフィルム評価装置を提供する。【解決手段】 ガラス板と面光源との距離を0mmとしてワークを通して面光源上のスリットの1つを撮像させ、画像データを解析する(S11〜S13)。そして、この距離を10mm,30mmに順次変化させながら同様の解析を行い、解析結果に基づいて幅倍率を算出する(S14〜18)。面光源,スリットおよびガラス板が、液晶表示素子における光源,液晶セルおよびカラーフィルタに対応するので、液晶表示素子上のワークの光学特性を非常に正確に求めることが可能となっている。

Claim (excerpt)：

光源から出射された光を、スリットを透過させた後にフィルムに照射する第1の工程と、フィルムを透過した光に基づいて、フィルムの透過光鮮明度を測定する第2の工程とを含むことを特徴とするフィルム評価方法。

IPC (2)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/59

FI (2)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/59 Z

F-Term (14)：

2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059EE01 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ26 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G086EE10 ,  2G086EE12 ,  2G086HH07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平4-143641
  
• 光学的歪検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-057117   Applicant：積水化学工業株式会社