Pat
J-GLOBAL ID:200903076530016350
プラント監視装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
須山 佐一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992281511
Publication number (International publication number):1994129882
Application date: Oct. 20, 1992
Publication date: May. 13, 1994
Summary:
【要約】【目的】 プロセス信号の雑音特性に基づいてプラント異常を監視する装置において、雑音特性解析条件(監視条件)の設定を標準化し、自動化する。【構成】 プロセス信号を入力するサンプリング周期および入力されたプロセス信号の時系列データを解析する解析条件を記憶する監視条件記憶手段11と、監視に先立って、監視条件記憶手段11に記憶されているサンプリング周期および解析条件に従って信号入力手段5によりプラント17から入力され解析手段7により解析されて得られる入力信号の解析データをもとに、予め設定された調整基準を用いて、監視条件記憶手段11に記憶されているサンプリング周期および解析条件を調整し、順次更新して最終的に監視条件を設定する監視条件設定手段9とを設ける。
Claim (excerpt):
プラントからプロセス信号を入力する信号入力手段と、入力されたプロセス信号の変動成分の特性を解析する解析手段とを具備し、その解析結果に基づいてプラントが正常に運転されているか否かを監視するプラント監視装置において、前記プロセス信号を入力するサンプリング周期および入力されたプロセス信号の時系列データを解析する解析条件を記憶する監視条件記憶手段と、監視に先立って、前記監視条件記憶手段に記憶されているサンプリング周期および解析条件に従って前記信号入力手段によりプラントから入力され前記解析手段により解析されて得られる入力信号の解析データをもとに、予め設定された調整基準を用いて、前記監視条件記憶手段に記憶されているサンプリング周期および解析条件を調整し、順次更新して最終的に監視条件を設定する監視条件設定手段とを備えたことを特徴とするプラント監視装置。
IPC (3):
G01D 21/00
, G05B 23/02 301
, G21C 17/00
Return to Previous Page