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J-GLOBAL ID：200903076531055618

飛行時間型質量分析計及び線形イオントラップを含む装置におけるイオン分析法

Inventor： ダグラス,ドナルド ジェイ ,  キャンプベル,ジェニファー エム ,  コリングズ,ブルース エイ
Applicant, Patent owner： ユニヴァーシティー オブ ブリティッシュ コロンビア
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000524809
Publication number (International publication number)：2001526447
Application date： Dec. 03, 1998
Publication date： Dec. 18, 2001
Summary：

【要約】イオンの分析方法が、イオン源、線形RF四重極及び飛行時間型質量分析計を含む質量分析計装置において実行される。イオンはイオン源から生成され、線形RF四重極に送られる。線形RF四重極内にイオンを保持するために、線形RF四重極の両端に電圧が印加されて、線形RF四重極がイオントラップとして作動する。注目するイオンが線形RF四重極内で選択され、不要なイオンは排除される。次いで選択されたイオンは励起され中性ガスと衝突させられて、選択されたイオンの衝突誘起解離を生じ、よって飛行時間型質量分析計における分析のためのフラグメントイオンが形成される。次いで、選択されたイオン及びフラグメントイオンに飛行時間型質量分析計を通過させるために、線形RF四重極の一端の電圧が調節される。これにより、選択されたイオン及びフラグメントイオンのスペクトルを飛行時間型質量分析計から得ることができる。

Claim (excerpt)：

イオン源、線形RF四重極及び飛行時間型質量分析計を含む質量分析計装置におけるイオン分析方法において、前記方法が: (1) 前記イオン源からイオンを生成し、前記イオンを前記線形RF四重極に送り込む工程; (2) 前記線形RF四重極の両端に電圧を印加し、前記線形RF四重極をイオントラップとして作動させる工程; (3) 注目するイオンを前記線形RF四重極において選択し、不要なイオンを排除する工程; (4) 前記選択されたイオンを励起し、前記イオンを中性ガスと衝突させて前記イオンの衝突誘起解離をおこさせ、よって前記飛行時間型質量分析計における分析のためのフラグメントイオンを形成する工程; (5) 前記線形RF四重極の一端の電圧を調節し、前記選択されたイオン及び前記フラグメントイオンに前記飛行時間型質量分析計を通過させる工程;及び (6) 前記飛行時間型質量分析計において前記選択されたイオン及び前記フラグメントイオンのスペクトルを得る工程;を含むことを特徴とする方法。

IPC (3)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/42

FI (3)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/42

F-Term (4)：

5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11