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J-GLOBAL ID：200903076535215741

光触媒薄膜の活性測定方法及び活性測定フィルム

Inventor： 則本 圭一郎 ,  小島 栄一 ,  渡部 俊也
Applicant, Patent owner： 東陶機器株式会社
Agent (1)： 下田 容一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993348073
Publication number (International publication number)：1995191011
Application date： Dec. 24, 1993
Publication date： Jul. 28, 1995
Summary：

【要約】【目的】 簡単な方法によりタイル等の表面に形成した光触媒薄膜の活性を評価する。【構成】 紫外線を光触媒薄膜2に照射すると、酸化反応と還元反応が同時に起こり、還元反応によって生じる水酸イオンによってハロゲン化アルカリ水溶液3のpHが上昇する。そこで、紫外線照射の前後におけるpHの差でもって活性が評価できる。

Claim (excerpt)：

基板表面に形成したTiO2を主体とする光触媒薄膜の表面にヨウ化カリウム或いは塩化カリウム等のハロゲン化アルカリ水溶液を滴下し、次いで、滴下したハロゲン化アルカリ水溶液に所定時間紫外線を照射し、照射前のハロゲン化アルカリ水溶液のpHと照射後のpHとの差から光触媒薄膜の活性の大きさを判断するようにしたことを特徴とする光触媒薄膜の活性測定方法。

IPC (3)：

G01N 31/00 ,  A61L 9/01 ,  G01N 31/16