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J-GLOBAL ID：200903076544143494

超音波測定装置

Inventor： 守屋 正 ,  棚橋 善克 ,  吉澤 昌純
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 加古 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000336460
Publication number (International publication number)：2002136522
Application date： Nov. 02, 2000
Publication date： May. 14, 2002
Summary：

【要約】【課題】チャープ信号のパルス幅を拡大せずに超音波測定を行うこと【解決手段】移動している反射体130に対して、探触子120から超音波を送信し、反射した超音波を同じ探触子120で受信している。送信される超音波として、使用する帯域をn個に分け、n個のダウンチャープ信号発生器112,113およびアップチャープ信号発生器116,117から、アップチャープ信号とダウンチャープ信号を作成し、合成器114,118で相補多重チャープ信号を作成している。探触子120により受信された受信信号と、それぞれのアップチャープ信号およびダウンチャープ信号との相互相関を相関器で取り、得られた圧縮信号を合成器144,148で重ね合わせてアップとダウンの圧縮信号を得る。これらの圧縮信号の相互相関を相互相関器160で取り、包絡線検波器170で包絡線検波を行うことで、相関距離を求めてドプラ計測を行う。

Claim (excerpt)：

超音波測定装置であって、複数の周波数帯域で分割されたチャープ信号を合成することにより、多重チャープ信号を発生する多重チャープ信号発生部と、前記多重チャープ信号の超音波を送信して、測定対象からの反射波を受信する探触子と、前記探触子からの受信信号と、複数の周波数帯域で分割したチャープ信号との相関を取ることで複数の圧縮信号を得て、前記複数の圧縮信号を合成することにより、受信信号の圧縮信号を得る圧縮信号生成部とを備えることを特徴とする超音波測定装置。

IPC (5)：

A61B 8/14 ,  A61B 8/06 ,  A61B 8/08 ,  G01B 17/00 ,  G01S 15/10

FI (6)：

A61B 8/14 ,  A61B 8/06 ,  A61B 8/08 ,  G01B 17/00 C ,  G01B 17/00 Z ,  G01S 15/10

F-Term (22)：

2F068AA03 ,  2F068CC07 ,  2F068DD04 ,  2F068FF05 ,  2F068FF12 ,  2F068FF26 ,  2F068PP11 ,  2F068QQ18 ,  4C301AA02 ,  4C301DD04 ,  4C301EE03 ,  4C301EE20 ,  4C301HH52 ,  4C301JB28 ,  5J083AA02 ,  5J083AB17 ,  5J083AC28 ,  5J083AD04 ,  5J083AD08 ,  5J083BA02 ,  5J083BE08 ,  5J083DA01