X線平面検出器を用いたX線診断装置及びX線診断装置の制御方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三好秀和 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999022677
Publication number (International publication number)：1999318877
Application date： Jan. 29, 1999
Publication date： Nov. 24, 1999
Summary：

【要約】【課題】柔軟に撮影及び透視を行うことができる平面検出器を有するX線診断装置を提供する。【解決手段】平面検出器の一部の領域の画素データを取得して表示する。例えば、X線が照射された領域の画素データを取得して表示する。X線が照射される領域は、X線絞りの開度と、X線絞りから平面検出器までの距離とで予測される。また、平面検出器の画素データの値からも判断できる。被検体の領域も画素データの値から、判断できる。従って、表示装置には、平面検出器全体に対応する画像、X線照射領域に対応する画像、又は被検体領域に対応する画像を表示できる。画素データを取得する平面検出器の領域の大きさに応じて、後段の画像処理手段の処理解像度に合わせて、画素データを取得する際の解像度を変化させる。特に、バイプレーン構成のX線診断装置においては、柔軟に観察すべき領域に追従できるようにする。

Claim (excerpt)：

X線を照射するためのX線源と、前記X線源から照射されたX線を検出する平面検出器と、前記平面検出器で検出された任意の領域の画素データを収集して処理する収集処理手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。

IPC (4)：

A61B 6/00 320 , A61B 6/00 300 , A61B 6/06 300 , H04N 1/04

FI (4)：

A61B 6/00 320 Z , A61B 6/00 300 S , A61B 6/06 300 , H04N 1/04 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

X線診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-248429 Applicant：フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ
X線診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-164249 Applicant：株式会社東芝
X線診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-198628 Applicant：東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝

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