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J-GLOBAL ID:200903076674994968

半導体レーザ装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 早瀬 憲一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991210163
Publication number (International publication number):1993037089
Application date: Jul. 25, 1991
Publication date: Feb. 12, 1993
Summary:
【要約】【目的】 半導体レーザ装置の熱抵抗を下げて、高出力動作や長寿命を実現する。【構成】 上下両電極側にヒートシンク100a,100bを設け、上下両電極側より放熱をおこなう半導体レーザ装置において、半導体レーザ素子の基板2aの厚みを50μm以下とした。【効果】 半導体レーザ素子の基板側からの放熱を向上でき、これにより熱抵抗を低減でき、高出力動作や長寿命が実現できる。
Claim (excerpt):
半導体レーザ素子をp側及びn側の電極側から2つのヒートシンクで挟んだ半導体レーザ装置において、前記半導体レーザ素子の基板の厚さが50μm以下であることを特徴とする半導体レーザ装置。
IPC (2):
H01S 3/18 ,  H01L 23/40
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平3-006875
  • 特開平2-177583
  • 特開平3-106089
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