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J-GLOBAL ID：200903076679899408

テストコマンド作成方法

Inventor： 河崎 さおり ,  刈込 正和
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立システムエンジニアリング株式会社 ,  日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993038158
Publication number (International publication number)：1994250883
Application date： Feb. 26, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】 効率的なテストを実施するためのテストデ-タを容易に作成することができ、またテストデバッグツ-ルを用いる際には、テストデバッガ用テストコマンドを自動生成することができ、それによりテストコマンド作成のための工数を大幅に削減し、テストの自動化を促進する。【構成】 テスト対象プログラムの特定デ-タ項目を指定して、このデ-タ項目および関連デ-タ項目を使用する命令を抽出し、これらのデ-タ項目のテストデ-タ編集画面を生成する。そして、テストしたい箇所のある着目デ-タ項目がどの項目を参照し、どの命令で使用されているかを判断し、これを見ながら簡単に必要なデ-タ項目のテストデ-タを作成する。また、このデ-タや抽出命令からテストデバッグ用のテストコマンドを生成する。

Claim (excerpt)：

被テストプログラムを指定して、該プログラムを読み込んだ後、該被テストプログラム中の特定のデ-タ項目に着目して該デ-タ項目を指定することにより、該デ-タ項目に関するテストデ-タ編集ウィンドウを生成して、該被テストプログラム中から該デ-タ項目および関連デ-タ項目を使用する命令を抽出し、該デ-タ項目を用いてテストデ-タを作成するとともに、該被テストプログラムおよび該ウィンドウに表示された情報からテストデバッグツ-ル用のテストコマンドを自動生成することを特徴とするテストコマンド作成方法。

IPC (2)：

G06F 11/28 340 ,  G06F 9/06 440