物体位置計測装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：笹島富二雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000083460
Publication number (International publication number)：2001272206
Application date： Mar. 24, 2000
Publication date： Oct. 05, 2001
Summary：

【要約】【課題】光学式センサを利用して物体の位置を計測する装置において、簡略な構成により高い精度で物体の位置を計測できる物体位置計測装置を提供する。【解決手段】本物体位置計測装置の基本構成は、走査光を計測領域に送出し、その反射光の受光状態を基に計測領域内の物体の位置を検出するセンサユニット1と、該センサユニット1から送出される走査光を再帰反射可能な反射部2と、からなる。センサユニット1は、共振型ミラーを用いてレーザ光を一定の振幅で走査し、反射部2に向けて送出するレーザ光安定走査部10と、反射部2で再帰反射された光等を受光する受光波形処理部30と、レーザ光安定走査部10の光走査方向に関する情報および受光波形処理部30の受光波形を基に、計測領域内の物体の位置を検出する物体位置検出部50と、を有する。

Claim (excerpt)：

光源から出射される光を可動ミラーに照射し、予め設定された計測領域を走査する走査光を発生する光走査手段と、該光走査手段に対面させて配置され、前記光走査手段から送出される走査光を再帰反射することが可能な光反射手段と、前記光走査手段の近傍に配置され、前記光反射手段で再帰反射された光を受光する受光手段と、前記光走査手段における光の走査方向と、前記受光手段における受光状態の変化とに基づいて、前記計測領域内に存在する物体の位置を検出する物体検出手段と、を備えて構成されたことを特徴とする物体位置計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/00 , G01S 17/46

FI (2)：

G01B 11/00 A , G01S 17/46

F-Term (44)：

2F065AA01 , 2F065DD02 , 2F065DD19 , 2F065FF02 , 2F065FF41 , 2F065GG06 , 2F065GG23 , 2F065HH04 , 2F065HH15 , 2F065JJ01 , 2F065JJ05 , 2F065JJ15 , 2F065LL13 , 2F065LL16 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065NN08 , 2F065QQ11 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25 , 2F065QQ51 , 5J084AA04 , 5J084AA10 , 5J084AB17 , 5J084AD06 , 5J084BA04 , 5J084BA05 , 5J084BA11 , 5J084BA38 , 5J084BA56 , 5J084BB02 , 5J084BB28 , 5J084CA04 , 5J084CA11 , 5J084CA17 , 5J084CA19 , 5J084CA52 , 5J084CA53 , 5J084DA01 , 5J084DA02 , 5J084DA08 , 5J084EA04 , 5J084EA31 , 5J084FA03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

特開昭62-005428
光バリア装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-019560 Applicant：日本信号株式会社
特公平6-100312

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