Pat

J-GLOBAL ID：200903076798067704

電圧測定装置

Inventor： 藤井 彰 ,  尾崎 一幸 ,  若菜 伸一 ,  後藤 善朗
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992049709
Publication number (International publication number)：1993251523
Application date： Mar. 06, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は電圧測定装置に関し、微細配線に流れる高周波信号の電圧を測定しうるようにすることを目的とする。【構成】 原子間力顕微鏡2のプローブ3のカンチレバー13及び探針15を導電性として構成する。プローブ3に電圧取得回路部16を集積化して設けて構成する。

Claim (excerpt)：

原子間力顕微鏡(2)の一部をなし、カンチレバー(13)と、該カンチレバーの基部を支持するカンチレバー支持部(14)と、該カンチレバーの先端の探針(15)とよりなるプローブ(3)の上記のカンチレバー(13)及び探針(15)を導電性とすると共に、該プローブに電圧値取得回路部(16)を設けた構成とし、最初に上記プローブを上記原子間力顕微鏡のプローブとして使用して微細配線上の電圧測定個所を定め、次いで上記プローブの探針を上記微細配線に接触させて上記電圧値取得回路部を通して電圧を測定する構成としたことを特徴とする電圧測定装置。

IPC (3)：

H01L 21/66 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/26

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 微細配線電流波形計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-026948   Applicant：富士通株式会社
• 特開平4-330752
  
• 強誘電体の分域壁観測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-256301   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平4-072505