Pat
J-GLOBAL ID:200903076810713765
形状評価方法および形状評価装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
曽々木 太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994334853
Publication number (International publication number):1996178636
Application date: Dec. 19, 1994
Publication date: Jul. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 煩雑な演算処理を必要とすることなく製品の等誤差線あるいは等誤差線分布が得られる形状評価方法および形状評価装置を提供する。【構成】 少なくとも陰面処理機能を有する画像処理装置10を用いるものであって、評価対象となる形状を画像表示装置11に表示する手順と、基準形状を同画像表示装置11に併せて表示する手順と、前記評価対象となる形状と基準形状とを重ね合わせる手順と、前記評価対象となる形状の前記基準形状を超える領域および/または前記基準形状に満たない領域を、前記基準形状上の対応する位置に表示したものを出力する手順とを含んでなるものである。
Claim (excerpt):
少なくとも陰面処理機能を有する画像処理装置を用いる形状評価方法であって、評価対象となる形状を画像表示装置に表示する手順と、基準形状を同画像表示装置に併せて表示する手順と、前記評価対象となる形状と基準形状とを重ね合わせる手順と、前記評価対象となる形状の前記基準形状を超える領域および/または前記基準形状に満たない領域を、前記基準形状上の対応する位置に表示したものを出力する手順とを含んでなることを特徴とする形状評価方法。
Return to Previous Page