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J-GLOBAL ID：200903076884799734

RF-IDの検査システム

Inventor：
梅田 誠

About 梅田 誠


Applicant, Patent owner：
トッパン・フォームズ株式会社

About トッパン・フォームズ株式会社


Agent (1)： ▲高▼橋 寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001292079
Publication number (International publication number)：2003099721
Application date： Sep. 25, 2001
Publication date： Apr. 04, 2003
Summary：
【要約】【課題】本発明は、製造されるRF-IDの良否を検査する検査システムに関し、RF-IDの種類に応じて容易に検査可能とし、将来の種類増加に対応可能とすることを目的とする。【解決手段】アンテナ25AおよびICモジュール25Bを少なくとも備えるRF-ID21を検査対象21Xとして通信を行い、当該検査対象21Xの良否を検査する際に、駆動機構14に検査対象21Xの種類毎に用意される所定数のシステム側アンテナ31,32を複数搭載し、検査対象21Xの種類に応じて切り替えて当該検査対象21Xと通信を行わせる構成とする。
Claim (excerpt)：
アンテナおよびICモジュールを少なくとも備えるRF-IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査するRF-IDの検査システムであって、前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、前記検査対象の種類毎に用意される所定数のシステム側アンテナと、前記検査対象と通信を行うシステム側アンテナを複数搭載し、当該検査対象に応じた当該システム側アンテナを切り替え、当該検査対象に対して位置決めさせる駆動機構と、前記検査対象の種類に応じて当該検査対象の良否を判定するものであり、切り替えられた前記システム側アンテナを介して当該検査対象と誘導結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象側からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判定する処理システムと、を有することを特徴とするRF-IDの検査システム。
IPC (5)：
G06K 17/00 ,  B42D 15/10 521 ,  G06K 19/07 ,  H04B 1/59 ,  H04B 17/00
FI (6)：
G06K 17/00 B ,  G06K 17/00 F ,  B42D 15/10 521 ,  H04B 1/59 ,  H04B 17/00 K ,  G06K 19/00 H
F-Term (21)：
2C005MA21 ,  2C005MA33 ,  2C005MB01 ,  2C005MB10 ,  2C005NA09 ,  2C005NA10 ,  2C005TA22 ,  2C005TA24 ,  2C005TA40 ,  5B035BB09 ,  5B035BC08 ,  5B035CA23 ,  5B058CA15 ,  5B058CA23 ,  5B058KA28 ,  5K042AA00 ,  5K042CA02 ,  5K042CA13 ,  5K042CA17 ,  5K042CA23 ,  5K042JA10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • ICカード発行処理装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-061644   Applicant：大日本印刷株式会社
  • リーダライタ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-149931   Applicant：オムロン株式会社
  • 非接触ICカードリーダライタ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-191624   Applicant：株式会社デンソー

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